Cài đặtNguyễn Duy Minh, Viet Nam

• Tạp chí Khoa học & Công nghệ Vol. 56 No. 1 (2020) - RESEARCH AND DEVELOPMENT
  ELECTRICAL IMPACT CHARACTERIZATION OF ANODE ACTIVE AREA AND STACKING-FAULTS IN 6.5 KV 4H-SIC PIN DIODES
  Abstract  PDF (Vietnamese)