PHÂN TÍCH ỔN ĐỊNH CỦA VỎ MICRO CÓ LỖ RỖNG VÀ CƠ TÍNH BIẾN THIÊN HAI PHƯƠNG BẰNG PHƯƠNG PHÁP ĐẲNG HÌNH HỌC

Tóm tắt

Bài báo này sử dụng phương pháp đẳng hình học (IGA), lý thuyết cặp ứng suất
đôi sửa đổi kết hợp với lý thuyết vỏ cổ điển của Kirchhoff-Love để phân tích ổn định
của vỏ micro có lỗ rỗng và cơ tính biến thiên theo chiều dày và phương chiều dài
x. Toàn bộ vỏ được đặt trên nền đàn hồi Pasternak và cơ tính vật liệu theo hàm số
mũ kết hợp với hai kiểu lỗ rỗng là đều và không đồng đều. Điểm mới của nghiên
cứu là xem xét hệ số tỷ lệ chiều dài thay đổi như cơ tính của vật liệu. Nguyên lý
Hamilton được áp dụng để đưa ra phương trình xác định lực mất ổn định của vỏ.
Độ chính xác của phương pháp được kiểm chứng thông qua các so sánh số tin cậy.
Hơn nữa, một cuộc khảo sát số để đánh giá ảnh hưởng của các tham số: lỗ rỗng,
hệ số tỷ lệ chiều dài, độ cứng nền đàn hồi và các yếu tố khác đến khả năng ổn định
của vỏ được thực hiện.