Nâng cao độ chính xác trong đánh giá ứng suất dư và mật độ vết nứt tế vi của lớp phủ

Abstract

Hiện nay, mạ phủ là một trong những công nghệ tiên tiến được nghiên cứu để áp dụng vào công nghệ xử lý bề mặt. Do đó, các phương pháp để đánh giá các tính chất của lớp phủ được chú trọng nghiên cứu. Trong bài báo này, công thức tính sai số cho phương pháp đo ứng suất dư của lớp phủ dùng nhiễu xạ tia X được xây dựng. Phương pháp đánh giá mật độ vết nứt tế vi của lớp phủ dùng công nghệ xử lý ảnh cũng được phát triển. Kết quả nghiên cứu thực nghiệm cho thấy, sai số ứng suất của lớp phủ được tính toán ứng với phương pháp nội suy đường nhiễu xạ tia X dùng phương trình Gauss. Mật độ vết nứt tế vi được đánh giá chính xác qua công nghệ xử lý ảnh