Phân tích giới hạn và thích nghi các tấm mỏng chịu uốn bằng thuật toán đối ngẫu

Tóm tắt

TÓM TẮT:

Bài báo trình bày thuật toán đối ngẫu của việc phân tích giới hạn và thích nghi các tấm mỏng chịu uốn. Dựa trên tiêu chuẩn chảy dẻo Von Mises và phép tối ưu hóa phi tuyến, bài báo sẽ phát triển một thuật toán đối ngẫu để tính toán đồng thời cận trên và cận dưới của giới hạn phá hoại dẻo và giới hạn thích nghi. Các phần tử tấm mỏng chịu uốn bốn nút (phần tử DKQ) sẽ được sử dụng để rời rạc hóa kết cấu. Cuối cùng bài báo sẽ khảo sát một số thí dụ cụ thể để thấy rõ các ưu điểm nổi bật của phương pháp như sự hội tụ của thuật toán cũng như độ chính xác của kết quả.

Từ khóa: Phương pháp số; tấm chịu uốn; phân tích giới hạn; phân tích sự thích nghi; đối ngẫu; lập trình phi tuyến