Nghiên cứu xác định các tạp chất bằng ICP-MS sau khi tách chúng khỏi nền Zr(IV) bằng phương pháp chiết dung môi với TBP/Toluen.
Chu Mạnh Nhương, Nguyễn Thị Mai Phương, Nguyễn Văn Trung
Tóm tắt
Bài báo giới thiệu các kết quả nghiên cứu khả năng chiết Zr(IV) bằng tributyl photphat (TBP) thông qua phổ hồng ngoại và phổ tử ngoại của muối Zr(IV), dung môi TBP-toluen và phức Zr-TBP-toluen. Kết quả nghiên cứu cũng chỉ ra ảnh hưởng của nồng độ HNO3 đến hiệu suất chiết Zr(IV) và các nguyên tố tạp chất khác bằng TBP trong toluen. Với hệ chiết (Zr(IV) 20,5 mg/ml và các tạp chất), khi sử dụng dung môi TBP 50%/toluen, qua 1 lần chiết trong môi trường HNO3 8M và 2-3 lần giải chiết bằng môi trường HNO3 10M, đã tách và thu hồi được (95-100%) hàm lượng của hầu hết các nguyên tố tạp chất và lượng nền Zr còn lại trong pha nước từ 3-4% sẽ không gây ảnh hưởng đến phép xác định các nguyên tố tạp chất bằng ICP-MS. Hệ chiết này có khả năng ứng dụng cao vào quy trình tách Zr(IV) và xác định tạp chất trong các vật liệu zirconi độ sạch hạt nhân và độ sạch cao bằng phép đo ICP-MS.
